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上海益朗仪器有限公司 
| 联系人：丁成峰 先生 (工程师) |
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| 电 话：021-69005726 |
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手 机：13701600767  |
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| 供应compact 5型X射线荧光测厚仪 |
X-RAY Compact 5为用户提供了一种效率高、低成本的镀层厚度测量及材料分析仪器，它适用于广泛的领域。高准确性、使用简单及适应性强也是其具有的重要特点。系统具有多种软件可以是用，使它能够适用于任何可能的应用。
技术特性
设计优良，宽大的测试室
无损
单、双、三层镀层的厚度测量
容易对焦
镀层厚度和成分同时分析
影视显微镜(V--25X)方便样板快速定位
合金定量分析
十字叉丝带点状试样指示器
镀液定量分析
用高效能X射线转换器使测量时间缩短
现代化技术领先的软件
安全性高，使用寿命长
用外部打印格式和数据储存进行精密统计计算
多层镀层系统的厚度和成分分析
软件
μ-MasteR 厚度测量值的评估软件
Fun-MasteR 非标基本元素校准软件
Element-MasteR 快速、简便的定性分析软件
%-MasteR 可达8种元素的准确量化软件
LiQuiD-MasteR 电镀液分析软件
Data-MasteR 数据处理软件
Report-MasteR 客户化的报告软件
技术数据
电源 ： 110伏或230伏 60赫兹或50赫兹
样件台： 100mm（长)×85mm（高）×60mm（深）
仪器尺寸： 450mm（长)×400mm（高）×650mm（深）
式样室： 60mm(长） ×350mm（高）×380mm（深）
X-射线管: 带钨阳极的高功率管(空冷)
X-射线源: 40千伏，电流*高1毫安
辐射安全: 配合测试标准AnlageII，Abs.3 经总失败-安全系统PTB试验 |
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